IEC 60749-14:2003

août 2003

Norme internationale En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 14 : robustesse de sorties (intégrité des connexions)

Informations générales

Normes internationales IEC

août 2003

27 p.

IEC 60749-14:2003

31.080.01 Dispositifs à semi-conducteurs en général

1 - 13/06/2005

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