IEC 60749-23 COMPIL:2011

mars 2011

Norme internationale En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23 : durée de vie en fonctionnement à haute température - Compilation de la publication IEC 60749-23 de février 2004 et de son amendement 1 de janvier 2011

Informations générales

Normes internationales IEC

mars 2011

18 p.

IEC 60749-23 COMPIL:2011

31.080.01 Dispositifs à semi-conducteurs en général

1 - 05/04/2011

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