IEC 62153-4-3:2006

IEC 62153-4-3:2006

mars 2006
Norme internationale Annulée

Méthodes d'essais des câbles métalliques de communication - Partie 4-3: Compatibilité électromagnétique (CEM) - Impédance surfacique de transfert - Méthode triaxiale

détermine l'efficacité du blindage d'un câble blindé en appliquant une tension et un courant bien définis à l'écran du câble et en mesurant la tension induite pour déterminer l'impédance surfacique de transfert. Cet essai mesure seulement la composante magnétique de l'impédance de transfert.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

mars 2006

Nombre de pages

57 p.

Référence

IEC 62153-4-3:2006

Codes ICS

33.100.10   Émission
33.120.10   Câbles coaxiaux. Guides d'onde

Numéro de tirage

1 - mai 2006
Résumé
Méthodes d'essais des câbles métalliques de communication - Partie 4-3: Compatibilité électromagnétique (CEM) - Impédance surfacique de transfert - Méthode triaxiale

détermine l'efficacité du blindage d'un câble blindé en appliquant une tension et un courant bien définis à l'écran du câble et en mesurant la tension induite pour déterminer l'impédance surfacique de transfert. Cet essai mesure seulement la composante magnétique de l'impédance de transfert.
Norme remplacée par (1)
IEC 62153-4-3:2013
octobre 2013
Norme internationale En vigueur
Metallic communication cable test methods - Part 4-3: Electromagnetic compatibility (EMC) - Surface transfer impedance - Triaxial method

IEC 62153-4-3:2013(E) determines the screening effectiveness of a cable shield by applying a well-defined current and voltage to the screen of the cable and measuring the induced voltage in order to determine the surface transfer impedance. This test measures only the magnetic component of the transfer impedance. This second edition cancels and replaces the first edition published in 2006. This edition constitutes a technical revision. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: - now three different test configurations are described; - formulas to calculate the maximum frequency up to which the different test configurations can be used are included; - the effect of ground loops is described.

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