NF EN 13925-1

NF EN 13925-1

octobre 2003
Norme En vigueur

Essais non destructifs - Diffraction des rayons X appliquée aux matériaux polycristallins et amorphes - Partie 1 : principes généraux

Le présent document décrit les principes généraux de la diffraction des rayons X appliquée aux matériaux polycristallins et amorphes. Ces principes s'appliquent aux matériaux en poudre, massifs et sous forme de films. Etant donné la diversité des matériaux et des formes de produits, les types d'analyses décrits dans le présent document ne sont pas exhaustifs.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

octobre 2003

Nombre de pages

15 p.

Référence

NF EN 13925-1

Codes ICS

19.100   Essais non destructifs

Indice de classement

A09-280-1

Numéro de tirage

1 - 06/10/2003

Parenté européenne

EN 13925-1:2003
Résumé
Essais non destructifs - Diffraction des rayons X appliquée aux matériaux polycristallins et amorphes - Partie 1 : principes généraux

Le présent document décrit les principes généraux de la diffraction des rayons X appliquée aux matériaux polycristallins et amorphes. Ces principes s'appliquent aux matériaux en poudre, massifs et sous forme de films. Etant donné la diversité des matériaux et des formes de produits, les types d'analyses décrits dans le présent document ne sont pas exhaustifs.
Sommaire
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  • Avant-propos
    3
  • Introduction
    4
  • 1
    Domaine d'application 4
  • 2
    Références normatives 4
  • 3
    Termes et définitions 5
  • 4
    Principes généraux de la diffraction des rayons X par les poudres (DRXP) 5
  • 5
    Signification du terme "poudre" pour la diffraction des rayons X 6
  • 6
    Caractéristiques du profil des raies de diffraction 7
  • 7
    Types d'analyse 7
  • 7.1
    Généralités 7
  • 7.2
    Identification de phases (également appelée "analyse qualitative de phase") 7
  • 7.3
    Analyse quantitative de phases 8
  • 7.4
    Estimation des fractions cristalline et amorphe d'un matériau 8
  • 7.5
    Détermination de paramètres de maille 8
  • 7.6
    Détermination de structure 9
  • 7.7
    Affinement de structures 9
  • 7.8
    Caractérisation de la texture cristallographique 9
  • 7.9
    Analyse des macrocontraintes 9
  • 7.10
    Détermination de la taille des cristallites et des microcontraintes 10
  • 7.11
    Fonction de distribution électronique radiale (DER) 11
  • 8
    Environnement particulier de l'échantillon 11
  • Annexe A (informative) Relations entre les normes relatives à la DRXP
    12
  • Bibliographie
    13
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