NF EN 60749-26

NF EN 60749-26

décembre 2006
Norme Annulée

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26 : essai de la sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM)

Le présent document établit une procédure normalisée pour les essais et la classification des dispositifs à semiconducteurs en fonction de leur sensibilité aux dommages ou de leur dégradation suite à leur exposition à des décharges électrostatiques (DES) sur un modèle de corps humain (HBM). Le but de ce document est de fournir des résultats d'essai de DES HBM fiables et reproductibles de manière que des classifications précises puissent être réalisées.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

décembre 2006

Nombre de pages

16 p.

Référence

NF EN 60749-26

Codes ICS

31.080.01   Dispositifs à semi-conducteurs en général

Indice de classement

C96-022-26

Numéro de tirage

1 - 21/12/2006

Parenté internationale

IEC 60749-26:2006

Parenté européenne

EN 60749-26:2006
Résumé
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26 : essai de la sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM)

Le présent document établit une procédure normalisée pour les essais et la classification des dispositifs à semiconducteurs en fonction de leur sensibilité aux dommages ou de leur dégradation suite à leur exposition à des décharges électrostatiques (DES) sur un modèle de corps humain (HBM). Le but de ce document est de fournir des résultats d'essai de DES HBM fiables et reproductibles de manière que des classifications précises puissent être réalisées.
Norme remplacée par (1)
NF EN 60749-26
septembre 2014
Norme Annulée
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26 : essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM)

Le présent document établit une procédure pour les essais, l'évaluation et la classification des composants et des microcircuits en fonction de leur susceptibilité (sensibilité) aux dommages ou de leur dégradation suite à leur exposition à des décharges électrostatiques (DES) sur un modèle de corps humain (HBM) défini.

Sommaire
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  • AVANT-PROPOS
    2
  • 1 Domaine d'application
    4
  • 2 Références normatives
    4
  • 3 Termes et définitions
    4
  • 4 Appareillage
    5
  • 4.1 Générateur de forme de DES du HBM
    5
  • 4.2 Appareil de vérification de la forme d'onde
    5
  • 5 Exigences de forme d'onde de courant du HBM
    7
  • 5.1 Généralités
    7
  • 5.2 Qualification et vérification de la forme d'onde
    9
  • 6 Considérations relatives à l'évaluation spécifique des dispositifs
    9
  • 6.1 Taille de l'échantillon et conditions d'essai
    9
  • 6.2 Broche du cas le plus défavorable ou carte de qualification standard
    9
  • 7 Procédure de classification
    11
  • 7.1 Exigences pour les dispositifs
    11
  • 7.2 Sélection des dispositifs
    11
  • 7.3 Caractérisation des dispositifs
    11
  • 7.4 Niveaux de contrainte des dispositifs
    11
  • 7.5 Combinaisons de broches
    11
  • 7.6 Ordre des essais
    12
  • 8 Critères de défaillance
    12
  • 9 Critères de classification
    12
  • 10 Resumé
    13
  • Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes
    14
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