NF EN 60749-27

NF EN 60749-27

décembre 2006
Norme En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27 : essai de la sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)

Le présent document établit une procédure normalisée pour les essais et les classements des dispositifs à semiconducteurs en fonction de leur sensibilité aux dommages ou à la dégradation du fait de leur exposition à une décharge électrostatique (DES) sur un modèle de machine (MM) défini. Il peut être utilisé comme une méthode d'essai en variante à la méthode d'essai de DES sur le modèle du corps humain. L'objectif est de fournir des résultats d'essai de DES fiables et reproductibles de manière à ce que des classifications précises puissent être réalisées.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

décembre 2006

Nombre de pages

15 p.

Référence

NF EN 60749-27

Codes ICS

31.080.01   Dispositifs à semi-conducteurs en général

Indice de classement

C96-022-27

Numéro de tirage

1 - 21/12/2006

Parenté internationale

IEC 60749-27:2006

Parenté européenne

EN 60749-27:2006
Résumé
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27 : essai de la sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)

Le présent document établit une procédure normalisée pour les essais et les classements des dispositifs à semiconducteurs en fonction de leur sensibilité aux dommages ou à la dégradation du fait de leur exposition à une décharge électrostatique (DES) sur un modèle de machine (MM) défini. Il peut être utilisé comme une méthode d'essai en variante à la méthode d'essai de DES sur le modèle du corps humain. L'objectif est de fournir des résultats d'essai de DES fiables et reproductibles de manière à ce que des classifications précises puissent être réalisées.
Sommaire
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  • AVANT-PROPOS
    2
  • 1 Domaine d'application
    4
  • 2 Références normatives
    4
  • 3 Termes et définitions
    4
  • 4 Appareillage
    5
  • 4.1 Générateur de forme de DES du MM
    5
  • 4.2 Appareil de vérification de la forme d'onde
    5
  • 5 Exigences de forme d'onde de courant du MM
    6
  • 5.1 Généralités
    6
  • 5.2 Qualification et vérification de la forme d'onde
    8
  • 6 Considérations relatives à l'évaluation spécifique des dispositifs
    8
  • 6.1 Taille de l'échantillon et conditions d'essai
    8
  • 6.2 Broche du cas le plus défavorable ou carte de qualification standard
    9
  • 7 Procédure de classification
    10
  • 7.1 Exigence pour les dispositifs
    10
  • 7.2 Sélection des dispositifs
    10
  • 7.3 Caractérisation des dispositifs
    10
  • 7.4 Niveaux de contrainte des dispositifs
    10
  • 7.5 Combinaisons de broches
    11
  • 7.6 Ordre des essais
    11
  • 8 Critères de défaillance
    11
  • 9 Critères de classification
    12
  • 10 Resumé
    12
  • Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes
    13
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