IEC 60747-5:1992

IEC 60747-5:1992

avril 1992
Norme internationale Annulée

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intégrés - Cinquième partie: Dispositifs optoélectroniques

Présente la terminologie, les symboles littéraux, les valeurslimites et caractéristiques essentielles ainsi que les méthodes demesure pour les photo-émetteurs, les détecteurs photoélectriques,les dispositifs photosensibles à semiconducteurs et les dispositifsutilisant le rayonnement optique pour leur fonctionnement interne.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

avril 1992

Nombre de pages

233 p.

Référence

IEC 60747-5:1992

Numéro de tirage

2
Résumé
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intégrés - Cinquième partie: Dispositifs optoélectroniques

Présente la terminologie, les symboles littéraux, les valeurs limites et caractéristiques essentielles ainsi que les méthodes de mesure pour les photo-émetteurs, les détecteurs photoélectriques, les dispositifs photosensibles à semiconducteurs et les dispositifs utilisant le rayonnement optique pour leur fonctionnement interne.
Norme remplacée par (7)
Norme internationale Annulée
Modification 1 à la publication IEC 60747-5-3 d'août 1997

IEC 61747-4:1998
septembre 1998
Norme internationale Annulée
Dispositifs d'affichage à cristaux liquides et à semiconducteurs - Partie 4: Modules et cellules d'affichage à cristaux liquides - Valeurs limite et caractéristiques essentielles

Décrit les valeurs limite et caractéristiques essentielles des cellules et modules d'affichage à cristaux liquides monochromes à matrice passive. Elle ne s'applique pas aux modules et cellules à matrice active ou polychrome.

Norme internationale Annulée
Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs. Dispositifs discrets et circuits intégrés - Partie 5-2: Dispositifs optoélectroniques - Valeurs limites et caractéristiques essentielles

IEC 60747-5-2:1997
septembre 1997
Norme internationale Annulée
Dispositifs à semiconducteurs. Dispositifs discrets et circuits intégrés - Partie 5-2: Dispositifs optoélectroniques - Valeurs limites et caractéristiques essentielles

Donne les valeurs limites et caractéristiques essentielles des catégories et sous-catégories suivantes de dispositifs optoélectroniques qui ne sont pas destinés à être utilisés dans le domaine des systèmes et sous-systèmes à fibres optiques: Photoémetteurs à semiconducteurs, détecteurs photoélectriques à semiconducteurs, dispositifs photosensibles à semiconducteurs et dispositifs à semiconducteurs utilisant le rayonnement optique pour leur fonctionnement interne.

IEC 61747-5:1998
juin 1998
Norme internationale Annulée
Dispositifs d'affichage à cristaux liquides et à semiconducteurs - Partie 5: Méthodes d'essais d'environnement, d'endurance et mécaniques

Répertorie les méthodes d'essai applicables aux dispositifs d'affichage à cristaux liquides. Prend en compte, dans la mesure du possible, les méthodes d'essai d'environnement de la CEI 60068. Comprend en outre l'inspection visuelle des cellules et des modules d'affichage à cristaux liquides. Etablit des méthodes d'essai uniformes indiquant des valeurs préférentielles pour les niveaux de contraintes, permettant d'estimer les propriétés environnementales des dispositifs d'affichage à cristaux liquides.

IEC 60747-5-3:1997
septembre 1997
Norme internationale Annulée
Dispositifs discrets à semiconducteurs et circuits intégrés - Partie 5-3: Dispositifs optoélectroniques - Méthodes de mesure

Décrit les méthodes de mesure applicables aux dispositifs optoélectroniques qui ne sont pas prévus pour être utilisés dans les systèmes ou sous-systèmes à fibres optiques.

IEC 61747-6:2004
avril 2004
Norme internationale Annulée
Dispositifs d'affichage à cristaux liquides et à semiconducteurs - Partie 6: Méthodes de mesure pour les modules à cristaux liquides - Type transmissif

Définit les détails des procédures d'estimation de la qualité, des conditions d'inspection, des séquences d'examens, des conditions d'échantillonnage et des procédures de test et de mesures pour l'évaluation du module d'afficheur à cristaux liquides. Cette norme est limitée aux modules d'affichage à cristaux liquides de type transmissif utilisant des dispositifs de type soit à segments, soit à matrice passive ou active et achromatique ou couleur.

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