IEC 60747-5-3:1997

IEC 60747-5-3:1997

septembre 1997
Norme internationale Annulée

Dispositifs discrets à semiconducteurs et circuits intégrés - Partie 5-3: Dispositifs optoélectroniques - Méthodes de mesure

Décrit les méthodes de mesure applicables aux dispositifs optoélectroniques qui ne sont pas prévus pour être utilisés dans les systèmes ou sous-systèmes à fibres optiques.

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Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

septembre 1997

Nombre de pages

61 p.

Référence

IEC 60747-5-3:1997

Numéro de tirage

1
Résumé
Dispositifs discrets à semiconducteurs et circuits intégrés - Partie 5-3: Dispositifs optoélectroniques - Méthodes de mesure

Décrit les méthodes de mesure applicables aux dispositifs optoélectroniques qui ne sont pas prévus pour être utilisés dans les systèmes ou sous-systèmes à fibres optiques.
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