Etablit une procédure normalisée pour les essais et la classification des dispositifs à semiconducteurs en fonction de leur sensibilité aux dommages ou à la dégradation du fait de leur exposition à une décharge électrostatique sur un modèle de machine défini. Le but de cette norme est de fournir des résultats d'essai fiables et reproductibles de manière à ce que des classifications précises puissent être réalisées.L'essai doit être choisi entre la présente méthode d'essai et celle du modèle du corps humain (voir CEI 60749-26).
Establishes a standard procedure for testing and classifying microcircuits according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine Model (MM) electrostatic discharge (ESD). The objective is to provide reliable, repeatable MM ESD test results so that accurate classifications can be performed.
Etablit une procédure normalisée pour les essais et les classements des dispositifs à semiconducteurs en fonction de leur sensibilité aux dommages ou à la dégradation du fait de leur exposition à une décharge électrostatique (DES) sur un modèle de machine (MM) défini. Elle peut être utilisée comme une méthode d'essai en variante à la méthode d'essai de DES sur le modèle du corps humain. L'objectif est de fournir des résultats d'essai de DES fiables et reproductibles de manière à ce que des classifications précises puissent être réalisées. Cette méthode d'essai est applicable à tous les dispositifs à semiconducteurs et elle est classée destructive.
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