IEC PAS 62180:2000

août 2000

Spécification publiquement disponible Annulée

Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing machine model (MM)

Establishes a standard procedure for testing and classifying microcircuits according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine Model (MM) electrostatic discharge (ESD). The objective is to provide reliable, repeatable MM ESD test results so that accurate classifications can be performed.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

août 2000

Nombre de pages

12 p.

Référence

IEC PAS 62180:2000

Numéro de tirage

1 - 17/10/2000

Résumé

Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing machine model (MM)

Establishes a standard procedure for testing and classifying microcircuits according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine Model (MM) electrostatic discharge (ESD). The objective is to provide reliable, repeatable MM ESD test results so that accurate classifications can be performed.

Norme remplacée par (1)

IEC 60749-27:2003

octobre 2003

Norme internationale Annulée

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27 : essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)

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