IEC 60891:2009

Donne des procédures concernant les corrections en fonction de la température et de l'éclairement qui devraient être appliquées aux caractéristiques I-V mesurées des dispositifs photovoltaïques au silicium cristallin seulement.

IEC 60891:2021 définit des procédures à suivre pour les corrections en fonction de la température et de l'éclairement appliquées aux caractéristiques I-V (courant-tension) mesurées (également appelées courbes I-V) des dispositifs photovoltaïques (PV). Il définit également les procédures utilisées pour déterminer les facteurs appropriés pour ces corrections. Les exigences pour le mesurage I-V des dispositifs PV sont données dans l'IEC 60904-1 et ses sous-parties applicables. Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition parue en 2009. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente: - ajout de recommandations concernant la procédure de correction à utiliser selon l'application; - introduction de la procédure de transposition 4 applicable aux technologies c-Si avec des coefficients de température inconnus; - introduction de différentes classifications dans les procédures existantes afin d'améliorer la précision de mesure et de réduire l'incertitude de mesure; - ajout d'une annexe informative qui présente des méthodes supplémentaires qui peuvent être utilisées pour déterminer la résistance-série. Le contenu du corrigendum 1 (2024-10) a été pris en considération dans cet exemplaire.