IEC PAS 62276:2001

IEC PAS 62276:2001

août 2001
Spécification publiquement disponible Annulée

Single crystal wafers applied for surface acoustic wave device - Specification and measuring method

Applies to single crystal wafers intended for manufacturing substrates made of synthetic quartz crystal, lithium niobate, lithium tantalate, lithium tetraborate crystals for surface acoustic wave (SAW) filters and resonators. Lays down specifications and measuring methods.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

août 2001

Nombre de pages

33 p.

Référence

IEC PAS 62276:2001

Numéro de tirage

1
Résumé
Single crystal wafers applied for surface acoustic wave device - Specification and measuring method

Applies to single crystal wafers intended for manufacturing substrates made of synthetic quartz crystal, lithium niobate, lithium tantalate, lithium tetraborate crystals for surface acoustic wave (SAW) filters and resonators. Lays down specifications and measuring methods.
Norme remplacée par (1)
IEC 62276:2005
mai 2005
Norme internationale Annulée
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods

Provides specifications for manufacturing piezoelectric single crystal wafers to be used in surface acoustic wave devices. Applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate, lithium tantalate, lithium tetraborate, and lanthanum gallium silicate single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic wave filters and resonators.

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