Provides specifications for manufacturing piezoelectric single crystal wafers to be used in surface acoustic wave devices. Applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate, lithium tantalate, lithium tetraborate, and lanthanum gallium silicate single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic wave filters and resonators.
Applies to single crystal wafers intended for manufacturing substrates made of synthetic quartz crystal, lithium niobate, lithium tantalate, lithium tetraborate crystals for surface acoustic wave (SAW) filters and resonators. Lays down specifications and measuring methods.
La CEI 62276:2012 s'applique à la fabrication de tranches monocristallines de quartz synthétique, de niobate de lithium (LN), de tantalate de lithium (LT), de tétraborate de lithium (LBO) et de silicate de gallium et de lanthane (LGS) destinées à être utilisées comme substrats dans la fabrication de résonateurs et de filtres à ondes acoustiques de surface (OAS). Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente: - les termes et définitions sont reclassés dans l'ordre alphabétique; - "LN réduit" est annexé aux termes et définitions; - "LT réduit" est annexé aux termes et définitions; - le processus de réduction est annexé aux termes et définitions.
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