NF EN 60749-2
Remplace l'article 3 du chapitre 3 de la norme NF EN 60749 (C96-022) de décembre 1999 et ses amendements A1 de février 2002 et A2 de juin 2002
Le présent document décrit l'essai de basse pression atmosphérique appliqué aux dispositifs à semiconducteurs.
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