NF ISO 15529
Optique et photonique - Fonction de transfert optique - Principes de mesure de la fonction de transfert de modulation (MTF) des systèmes de formation d'image échantillonnés
L'ISO 15529:2007 décrit les principales MTF associées à un système de formation d'image, ainsi que les conditions connexes et expose plusieurs méthodes de mesure possibles de ces MTF. Elle définit également une mesure pour le repliement du spectre lié à la formation d'image avec ce type de système.L'ISO 15529:2007 s'applique particulièrement aux dispositifs d'imagerie électroniques tels que les appareils photonumériques et les caméras vidéo numériques et les groupements de détecteurs qu'ils renferment.
L'ISO 15529:2007 décrit les principales MTF associées à un système de formation d'image, ainsi que les conditions connexes et expose plusieurs méthodes de mesure possibles de ces MTF. Elle définit également une mesure pour le repliement du spectre lié à la formation d'image avec ce type de système.
L'ISO 15529:2007 s'applique particulièrement aux dispositifs d'imagerie électroniques tels que les appareils photonumériques et les caméras vidéo numériques et les groupements de détecteurs qu'ils renferment.
La présente Norme internationale s'applique particulièrement aux dispositifs d'imagerie électroniques tels que les caméras à CCD et les matrices de CCD elles-mêmes.Bien qu'un certain nombre de méthodes de mesure soient décrites ci-après, le présent document n'a pas vocation d'exclure les autres méthodes si tant est qu'elles fournissent des résultats similaires et qu'elles correspondent aux définitions générales et aux lignes directrices visant à mesurer la MTF conformément à l'ISO 9334 et l'ISO 9335.L'exploitation de la mesure de la répartition des éclairements dans l'image d'un «bord de plage» (ESF), plutôt que de la répartition des éclairements dans l'image d'une ligne (LSF), est mentionnée comme solution de départ optionnelle pour déterminer l'OTF/MTF d'un système de formation d'image.
L'ISO 15529:2010 décrit les principales MTF associées à un système de formation d'image ainsi que les conditions connexes et expose plusieurs méthodes de mesure possibles de ces MTF. Elle définit également une mesure pour le repliement du spectre lié à la formation d'image avec ce type de système. L'ISO 15529:2010 s'applique particulièrement aux dispositifs d'imagerie électroniques tels que les appareils photonumériques et les caméras vidéo numériques, et les groupements de détecteurs qu'ils renferment.
- Avant-proposiv
- Introductionv
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1 Domaine d'application1
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2 Références normatives1
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3 Termes, définitions et symboles1
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3.1 Termes et définitions1
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3.2 Symboles4
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4 Relations théoriques5
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4.1 Transformée de Fourier de l'image de la fente objet (statique)5
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4.2 Transformée de Fourier de la sortie d'une ouverture d'échantillonnage simple impliquant une fente objet explorée à travers l'ouverture7
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4.3 Transformée de Fourier de la LSF moyenne impliquant différentes positions de la fente objet7
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5 Méthodes de mesure des MTF associées aux systèmes de formation d'image8
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5.1 Généralités8
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5.2 Azimut d'essai9
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5.3 Mesurage de Tsys d'un dispositif de formation d'image échantillonné ou d'un système complet10
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5.4 Mesurage de la MTF de l'ouverture d'échantillonnage (Tap)16
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6 Méthode de mesure de la fonction de repliement du spectre, du rapport de repliement du spectre et du potentiel de repliement du spectre16
- Annexe A (informative) Théorie fondamentale18
- Annexe B (informative) Repliement du spectre dans les systèmes de formation d'image échantillonnés21
- Bibliographie27
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