NF ISO 15529

NF ISO 15529

avril 2011
Norme En vigueur

Optique et photonique - Fonction de transfert optique - Principes de mesure de la fonction de transfert de modulation (MTF) des systèmes de formation d'image échantillonnés

L'ISO 15529:2010 décrit les principales MTF associées à un système de formation d'image ainsi que les conditions connexes et expose plusieurs méthodes de mesure possibles de ces MTF. Elle définit également une mesure pour le repliement du spectre lié à la formation d'image avec ce type de système.L'ISO 15529:2010 s'applique particulièrement aux dispositifs d'imagerie électroniques tels que les appareils photonumériques et les caméras vidéo numériques, et les groupements de détecteurs qu'ils renferment.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

avril 2011

Nombre de pages

32 p.

Référence

NF ISO 15529

Codes ICS

17.180.01   Optique et mesurage optique en général

Indice de classement

S10-050

Numéro de tirage

1 - 16/03/2011

Parenté internationale

ISO 15529:2010
Résumé
Optique et photonique - Fonction de transfert optique - Principes de mesure de la fonction de transfert de modulation (MTF) des systèmes de formation d'image échantillonnés

L'ISO 15529:2010 décrit les principales MTF associées à un système de formation d'image ainsi que les conditions connexes et expose plusieurs méthodes de mesure possibles de ces MTF. Elle définit également une mesure pour le repliement du spectre lié à la formation d'image avec ce type de système.

L'ISO 15529:2010 s'applique particulièrement aux dispositifs d'imagerie électroniques tels que les appareils photonumériques et les caméras vidéo numériques, et les groupements de détecteurs qu'ils renferment.

Normes remplacées (1)
NF ISO 15529
novembre 2007
Norme Annulée
Optique et photonique - Fonction de transfert optique - Principes de mesure de la fonction de transfert de modulation (MTF) des systèmes de formation d'image échantillonnés

L'ISO 15529:2007 décrit les principales MTF associées à un système de formation d'image, ainsi que les conditions connexes et expose plusieurs méthodes de mesure possibles de ces MTF. Elle définit également une mesure pour le repliement du spectre lié à la formation d'image avec ce type de système. L'ISO 15529:2007 s'applique particulièrement aux dispositifs d'imagerie électroniques tels que les appareils photonumériques et les caméras vidéo numériques et les groupements de détecteurs qu'ils renferment.

Sommaire
  • Avant-propos
    iv
  • 1 Domaine d'application
    1
  • 1 Références normatives
    1
  • 3 Termes, définitions et symboles
    2
  • 3.1 Termes et définitions
    2
  • 3.2 Symboles
    4
  • 4 Relations théoriques
    5
  • 4.1 Transformée de Fourier de l'image de la fente objet (statique)
    5
  • 4.2 Transformée de Fourier de la sortie d'une ouverture d'échantillonnage simple impliquant une fente objet explorée à travers l'ouverture
    7
  • 4.3 Transformée de Fourier de la LSF moyenne impliquant différentes positions de la fente objet
    7
  • 5 Méthodes de mesure des MTF associées aux systèmes de formation d'image
    8
  • 5.1 Généralités
    8
  • 5.2 Azimut d'essai
    9
  • 5.3 Mesurage de la MTF du système, Tsys(r), d'un dispositif de formation d'image échantillonné ou d'un système complet
    10
  • 5.4 Mesurage de la MTF de l'ouverture d'échantillonnage, Tap
    16
  • 6 Méthode de mesure de la fonction de repliement du spectre, du rapport de repliement du spectre et du potentiel de repliement du spectre
    17
  • Annexe A (informative) Théorie fondamentale
    18
  • Annexe B (informative) Repliement du spectre dans les systèmes de formation d'image échantillonnés
    21
  • Bibliographie
    26
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