NF EN 60749-34
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 34 : cycles en puissance
Le présent document décrit une méthode d'essai utilisée pour déterminer la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes.
Le présent document décrit une méthode d'essai utilisée pour déterminer la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes.
Le présent document détermine la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes
- Avant-propos
-
1 Domaine d'application et objet
-
2 Références normatives
-
3 Termes et définitions
-
4 Appareillage d'essai
-
5 Procédure
-
6 Conditions d'essai
-
7 Précautions
-
8 Mesures
-
9 Critères de défaillance
-
10 Résumé
- Annexe
- Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes
- Bibliographie
COBAZ est la solution simple et efficace pour répondre aux besoins normatifs liés à votre activité, en France comme à l’étranger.
Disponible sur abonnement, CObaz est LA solution modulaire à composer selon vos besoins d’aujourd’hui et de demain. Découvrez vite CObaz !
Demandez votre démo live gratuite, sans engagement
Je découvre COBAZ