NF EN 60749-32

NF EN 60749-32

November 2003
Standard Current

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32 : flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

Le présent document est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés). L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu en raison d'une chaleur extérieure. L'essai est pratiqué avec un brûleur-aiguille, simulant l'effet de petites flammes pouvant résulter de mauvaises conditions apparaissant dans l'équipement contenant le dispositif.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

November 2003

Number of pages

7 p.

Reference

NF EN 60749-32

ICS Codes

31.080.01   Semiconductor devices in general

Classification index

C96-022-32

Print number

1 - 05/12/2003

International kinship

IEC 60749-32:2002

European kinship

EN 60749-32:2003
Sumary
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32 : flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

Le présent document est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés). L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu en raison d'une chaleur extérieure. L'essai est pratiqué avec un brûleur-aiguille, simulant l'effet de petites flammes pouvant résulter de mauvaises conditions apparaissant dans l'équipement contenant le dispositif.
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