NF EN 62132-3

January 2008

Standard Cancelled

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 KHz to 1 GHz - Part 3 : Bulk Current Injection (BCI) method

Le présent document décrit une méthode d'essai d'injection de courant (BCI) en vue de mesurer l'immunité des circuits intégrés (CI) en présence de perturbations RF conduites, comme par exemple celles résultant de perturbations RF rayonnées. Cette méthode s'applique uniquement aux CI connectés sur des liaisons externes à la carte, par exemple sur des torons. Cette méthode d'essai est utilisée pour injecter un courant RF sur un ou plusieurs fils. Ce document établit une base commune pour l'évaluation des dispositifs à semi-conducteurs utilisés dans les matériels fonctionnant dans des environnements soumis à des signaux électromagnétiques à radiofréquences intempestifs.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

January 2008

Number of pages

23 p.

Reference

NF EN 62132-3

ICS Codes

31.200 Integrated circuits. Microelectronics

33.100.20 Immunity

Classification index

C96-261-3

Print number

1 - 04/02/2008

International kinship

IEC 62132-3:2007

European kinship

EN 62132-3:2007

Sumary

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 KHz to 1 GHz - Part 3 : Bulk Current Injection (BCI) method

Le présent document décrit une méthode d'essai d'injection de courant (BCI) en vue de mesurer l'immunité des circuits intégrés (CI) en présence de perturbations RF conduites, comme par exemple celles résultant de perturbations RF rayonnées. Cette méthode s'applique uniquement aux CI connectés sur des liaisons externes à la carte, par exemple sur des torons. Cette méthode d'essai est utilisée pour injecter un courant RF sur un ou plusieurs fils. Ce document établit une base commune pour l'évaluation des dispositifs à semi-conducteurs utilisés dans les matériels fonctionnant dans des environnements soumis à des signaux électromagnétiques à radiofréquences intempestifs.

Table of contents

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AVANT-PROPOS
2
1 Domaine d'application et objet
4
2 Références normatives
4
3 Termes et définitions
4
4 Généralités
4
5 Conditions d'essai
5
5.1 Généralités
5
Figure 1 - Trajet du courant principal lors de l'utilisation du BCI
5
5.2 Matériel d'essai
6
Figure 2 - Schéma du montage d'essai BCI
6
5.3 Carte d'essai
7
Figure 3 - Exemple de carte d'essai, vue de dessus
7
6 Modalités d'essai
8
6.1 Champs électromagnétiques dangereux
8
6.2 Etalonnage de la limitation de puissance directe
8
6.3 Essai BCI
9
Figure 4 - Montage d'étalonnage
9
6.4 Procédure de caractérisation du dispositif d'essai BCI
10
Figure 5 - Logigramme de la procédure d'essai BCI pour chaque échelon de fréquence
10
Figure 6 - Montage d'essai de validation d'impédance
10
7 Rapport d'essai
11
Annexe A (informative) Exemples de niveaux d'essai et de choix de pas de fréquence
12
Tableau A.1 - Niveaux de sévérité d'essai
12
Tableau A.2 - Pas de fréquence linéaires
13
Tableau A.3 - Pas de fréquence logarithmiques
13
Annexe B (informative) Exemple de carte d'essai BCI et mise en oeuvre
14
Figure B.1 -Vue générale
14
Figure B.2 - Exemple de vue de dessus de la carte d'essai
15
Figure B.3 - Assemblage de carte d'essai
15
Figure B.4 - Carte d'essai et montage en cuivre
16
Figure B.5 - Exemple de montage de support de pinces non conducteur
16
Annexe C (informative) Exemple de carte d'essai RF et mise en oeuvre
17
Figure C.1 - Couplage RF compact aux accès différentiels du CI
17
Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes
19
Bibliographie
18

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