NF EN 623-5
Advanced technical ceramics - Monolithic ceramics - General and textural properties - Part 5 : determination of phase volume fraction by evaluation of micrographs
Le présent document spécifie une méthode manuelle de mesurage, permettant de déterminer la fraction volumique des principales phases, dans les céramiques techniques avancées. Certains utilisateurs du présent document peuvent souhaiter appliquer l'analyse d'image automatique ou semi-automatique, aux microphotographies ou aux images microstructurales capturées directement. Ceci n'entre pas actuellement dans le cadre du présent document, mais certaines directives figurent à l'Annexe C.
Le présent document spécifie une méthode manuelle de mesurage, permettant de déterminer la fraction volumique des principales phases, dans les céramiques techniques avancées. Certains utilisateurs du présent document peuvent souhaiter appliquer l'analyse d'image automatique ou semi-automatique, aux microphotographies ou aux images microstructurales capturées directement. Ceci n'entre pas actuellement dans le cadre du présent document, mais certaines directives figurent à l'Annexe C.
<p>ISO 13383-2:2012 specifies a manual method of making measurements for the determination of the volume fraction of major phases in fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) using micrographs of polished and etched sections, overlaying a square grid of lines, and counting the number of intersections lying over each phase.</p> <p>The method applies to ceramics with one or more distinct secondary phases, such as found in Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/ZrO<sub>2</sub>, Si/SiC, or Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/SiC<sub>w</sub>.</p> <p>If the test material contains discrete pores, these are to be treated as a secondary phase for the purpose of this method, provided that there is no evidence of grain pluck-out during polishing being confused with genuine pores.</p>
- Avant-propos3
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1 Domaine d'application4
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2 Références normatives4
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3 Termes et définitions5
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4 Appareillage5
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4.1 Matériel de coupe5
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4.2 Matériel de montage5
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4.3 Matériel de rectification et de polissage5
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4.4 Microscope5
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4.5 Grille transparente5
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5 Préparation de l'éprouvette6
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5.1 Échantillonnage6
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5.2 Coupe6
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5.3 Montage6
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5.4 Rectification et polissage6
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5.5 Décapage6
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6 Photomicrographie7
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6.1 Aspects généraux7
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6.2 Contrôle7
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6.3 Nombre de microphotographies7
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6.4 Microscope optique7
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6.5 Microscopie électronique à balayage (MEB)7
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7 Mesurage des microphotographies8
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8 Calcul des résultats8
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9 Interférences et incertitudes9
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10 Rapport d'essai9
- Annexe A (informative) Modes opératoires de rectification et de polissage11
- Annexe B (informative) Modes opératoires de décapage13
- Annexe C (informative) Utilisation d'une analyse d'images automatique (AIA)15
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C.1 Contexte15
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C.2 Techniques d'analyse15
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C.3 Exigences des microphotographies15
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C.4 Étalonnage15
- Annexe D (informative) Installation de l'éclairage de Köhler dans un microscope optique16
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D.1 Objet16
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D.2 Définition16
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D.3 Installation de l'éclairage de Köhler16
- Annexe E (informative) Vérification interlaboratoire du mode opératoire17
- Annexe F (informative) Feuille de résultats18
- Bibliographie19
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