NF ISO 18116

August 2006

Standard Current

Surface chemical analysis - Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis

ISO 18116:2005 gives guidance on methods of mounting and surface treatment for a specimen about to undergo surface chemical analysis. It is intended for the analyst as an aid in understanding the specialized specimen-handling conditions required for analyses by techniques such as Auger electron spectroscopy, secondary-ion mass spectrometry, and X-ray photoelectron spectroscopy.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

August 2006

Number of pages

23 p.

Reference

NF ISO 18116

ICS Codes

71.040.40 Chemical analysis

Classification index

X21-056

Print number

1 - 10/07/2006

International kinship

ISO 18116:2005

Sumary

Surface chemical analysis - Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis

Table of contents

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1
Domaine d'application 1
2
Références normatives 1
3
Termes et définitions 1
4
Symboles et termes abrégés 1
5
Exigences générales 1
6
Inspection visuelle de l'échantillon 2
7
Considérations sur l'échantillon 2
7.1
Historique 2
7.2
Information recherchée 2
7.3
Échantillons précédemment examinés par d'autres techniques analytiques 2
8
Sources de contamination de l'échantillon 3
8.1
Outils, gants, socles de montage, et matériaux similaires 3
8.2
Exposition à des gaz 3
8.3
Exposition au vide instrumental 3
8.4
Exposition aux électrons, aux ions, et aux rayons X 4
8.5
Contamination de la chambre d'analyse 4
9
Stockage et transfert de l'échantillon 4
9.1
Temps de stockage 4
9.2
Récipients de stockage 4
9.3
Température et humidité 5
9.4
Transfert de l'échantillon 5
10
Procédures de montage de l'échantillon 5
10.1
Procédures générales 5
10.2
Poudres et particules 6
10.3
Fils, fibres, et filaments 6
10.4
Support de montage 6
10.5
Réduction des dommages thermiques pendant l'analyse 6
11
Méthodes pour réduire la charge de l'échantillon 7
11.1
Considérations générales 7
11.2
Masque, grille, enveloppe, ou revêtement conducteurs 7
11.3
Canon de neutralisation 7
11.4
Faisceaux d'électrons et d'ions 7
12
Techniques de préparation de l'échantillon 8
12.1
Considérations générales 8
12.2
Séparation mécanique 8
12.3
Amincissement contre élimination 8
12.4
Élimination du substrat 8
12.5
Techniques de coupe 9
12.6
Croissance des surcouches 10
12.7 Solvants
10
12.8
Décapage chimique 11
12.9
Pulvérisation d'ions 11
12.10
Décapage par plasma 12
12.11 Chauffage
12
12.12
Rayonnement ultraviolet 13
13
Fracture, clivage et traçage 13
13.1 Fracture
13
13.2 Clivage
14
13.3 Traçage
14
14
Techniques spéciales de manipulation 14
14.1
Pompage préalable des échantillons contenant des gaz 14
14.2
Liquides visqueux 14
14.3
Résidu dissous 14
Bibliographie
15

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