IEC 60410:1973

janvier 1973

Norme internationale Annulée

Plans et règles d'échantillonnage pour les contrôles par attributs

Donne des plans et des règles d'échantillonnage pour les contrôles par attributs. Ces plans d'échantillonnage sont applicables notamment, mais d'une manière non limitative, aux contrôles des produits finis, des composants ou matières premières, des opérations (phases d'usinage), des matériels en cours de fabrication, des fournitures en stock, des opérations d'entretien, des informations ou enregistrements et des procédures administratives.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

janvier 1973

Nombre de pages

82 p.

Référence

IEC 60410:1973

Numéro de tirage

Résumé

Plans et règles d'échantillonnage pour les contrôles par attributs

Donne des plans et des règles d'échantillonnage pour les contrôles par attributs. Ces plans d'échantillonnage sont applicables notamment, mais d'une manière non limitative, aux contrôles des produits finis, des composants ou matières premières, des opérations (phases d'usinage), des matériels en cours de fabrication, des fournitures en stock, des opérations d'entretien, des informations ou enregistrements et des procédures administratives.

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