IEC 60444-8:2003

Describes the test-fixture that allows the accurate measurement of resonance frequency, resonance resistance, and electrical-equivalent-circuit constants of a leadless surface mounting quartz crystal using the zero phase technique as specified in IEC 60444.

L'IEC 60444-8:2016 spécifie les dispositifs d'essai appropriés aux résonateurs à quartz sans sorties montés en surface dans des enveloppes tels que définis dans l'IEC 61837 (toutes les parties). Ces dispositifs permettent de mesurer les paramètres de fréquence de résonance (en série), de résistance de résonance (en série) et de circuit électrique équivalents L1, C1 et C0 à l'aide des techniques de mesure spécifiées dans l'IEC 60444-5. Ils permettent également de déterminer la fréquence de résonance à la charge et la résistance de résonance à la charge selon l'IEC TR 60444-4 et l'IEC 60444-11. Deux dispositifs d'essai sont spécifiés dans le présent document: 1) Un dispositif utilisant le circuit en p avec des valeurs électriques telles que décrites dans l'IEC 60444-1 pour les mesurages en mode de transmission jusqu'à 500 MHz. Ce dispositif comprend des moyens facultatifs permettant d?ajouter des condensateurs de charge physique pour le mesurage des paramètres de résonance à la charge jusqu'à 30 MHz conformément à l'IEC 60444-4. La plage de la capacité de charge est de 10 pF ou plus. L'étalonnage du système de mesure et de la carte d'adaptateur CL est décrit ci-après. 2) Un dispositif fonctionnant selon la méthode de réflexion, approprié pour une plage de fréquences jusqu'à 1 200 MHz. Aucune disposition concernant l'ajout d'une capacité de charge physique n'est prévue. Les paramètres de résonance à la charge peuvent être mesurés en utilisant la méthode spécifiée dans l'IEC 60444-11. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente: a) modification de l'Article 1; b) modification du 5.2; c) modification du 5.3; d) modification du 5.4; e) 6.3 Étalonnage du système de mesure de réflexion.