IEC 60747-2:1983/AMD1:1992

IEC 60747-2:1983/AMD1:1992

février 1992
Norme internationale Annulée

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets - Deuxième partie: Diodes de redressement

Présente de nouvelles méthodes de mesure pour la charge recouvrée et le temps de recouvrement inverse ainsi que pour la puissance inverse de pointe des diodes de redressement à avalanche contrôlée.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

février 1992

Nombre de pages

45 p.

Référence

IEC 60747-2:1983/AMD1:1992

Codes ICS

31.080.10   Diodes

Numéro de tirage

1
Résumé
Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets - Deuxième partie: Diodes de redressement

Présente de nouvelles méthodes de mesure pour la charge recouvrée et le temps de recouvrement inverse ainsi que pour la puissance inverse de pointe des diodes de redressement à avalanche contrôlée.
Norme remplacée par (1)
IEC 60747-2:2000
mars 2000
Norme internationale Annulée
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intégrés - Partie 2: Diodes de redressement

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