IEC 60749-13:2002
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : Atmosphère saline
Décrit un essai d'atmosphère saline réalisé pour déter-miner la résistance des dispositifs à semiconducteurs à la corrosion. Il s'agit d'un essai accéléré qui simule les effets d'une atmosphère côtière corrosive sur toutes les surfaces exposées. Il n'est applicable qu'aux dispositifs spécifiés pour un environnement maritime. L'essai d'atmosphère saline est considéré comme destructif. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
Décrit un essai d'atmosphère saline réalisé pour déter-miner la résistance des dispositifs à semiconducteurs à la corrosion. Il s'agit d'un essai accéléré qui simule les effets d'une atmosphère côtière corrosive sur toutes les surfaces exposées. Il n'est applicable qu'aux dispositifs spécifiés pour un environnement maritime. L'essai d'atmosphère saline est considéré comme destructif. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
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