IEC 60749-4:2017

IEC 60749-4:2017

mars 2017
Norme internationale En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4: Essai continu fortement acceléré de contrainte de chaleur humide (HAST)

L’IEC 60749-4:2017 décrit un essai de contrainte de température et d’humidité fortement accéléré (HAST, highly accelerated temperature and humidity stress test) qui est réalisé dans le but d’évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente: a) clarification des exigences relatives à la température, à l’humidité relative et à la durée d’exposition, détaillées dans le Tableau 1; b) ajout de recommandations suggérant de placer une ou des résistances dans le montage d’essai, afin d’éviter d’endommager la carte d’essai ou le dispositif soumis à essai (DUT, Device Under Test); c) spécification d’une autorisation d’extension du temps d’établissement des conditions d’essai ou du temps de retour à la contrainte.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

mars 2017

Nombre de pages

20 p.

Référence

IEC 60749-4:2017

Numéro de tirage

2
Résumé
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4: Essai continu fortement acceléré de contrainte de chaleur humide (HAST)

L’IEC 60749-4:2017 décrit un essai de contrainte de température et d’humidité fortement accéléré (HAST, highly accelerated temperature and humidity stress test) qui est réalisé dans le but d’évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente:
a) clarification des exigences relatives à la température, à l’humidité relative et à la durée d’exposition, détaillées dans le Tableau 1;
b) ajout de recommandations suggérant de placer une ou des résistances dans le montage d’essai, afin d’éviter d’endommager la carte d’essai ou le dispositif soumis à essai (DUT, Device Under Test);
c) spécification d’une autorisation d’extension du temps d’établissement des conditions d’essai ou du temps de retour à la contrainte.
Normes remplacées (2)
IEC 60749-4:2002
avril 2002
Norme internationale Annulée
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4: Essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide (HAST)

Décrit un essai de contrainte de température et d'humidité fortement accéléré (HAST) qui est réalisé dans le but d'évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.

Norme internationale Annulée
Corrigendum 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4: Essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide (HAST)

Modification de la date de validité : fixée maintenant à 2007.

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