IEC 60749-4:2017
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4: Essai continu fortement acceléré de contrainte de chaleur humide (HAST)
L’IEC 60749-4:2017 décrit un essai de contrainte de température et d’humidité fortement accéléré (HAST, highly accelerated temperature and humidity stress test) qui est réalisé dans le but d’évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente: a) clarification des exigences relatives à la température, à l’humidité relative et à la durée d’exposition, détaillées dans le Tableau 1; b) ajout de recommandations suggérant de placer une ou des résistances dans le montage d’essai, afin d’éviter d’endommager la carte d’essai ou le dispositif soumis à essai (DUT, Device Under Test); c) spécification d’une autorisation d’extension du temps d’établissement des conditions d’essai ou du temps de retour à la contrainte.
L’IEC 60749-4:2017 décrit un essai de contrainte de température et d’humidité fortement accéléré (HAST, highly accelerated temperature and humidity stress test) qui est réalisé dans le but d’évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente:
a) clarification des exigences relatives à la température, à l’humidité relative et à la durée d’exposition, détaillées dans le Tableau 1;
b) ajout de recommandations suggérant de placer une ou des résistances dans le montage d’essai, afin d’éviter d’endommager la carte d’essai ou le dispositif soumis à essai (DUT, Device Under Test);
c) spécification d’une autorisation d’extension du temps d’établissement des conditions d’essai ou du temps de retour à la contrainte.
Décrit un essai de contrainte de température et d'humidité fortement accéléré (HAST) qui est réalisé dans le but d'évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
Modification de la date de validité : fixée maintenant à 2007.
COBAZ est la solution simple et efficace pour répondre aux besoins normatifs liés à votre activité, en France comme à l’étranger.
Disponible sur abonnement, CObaz est LA solution modulaire à composer selon vos besoins d’aujourd’hui et de demain. Découvrez vite CObaz !
Demandez votre démo live gratuite, sans engagement
Je découvre COBAZ