IEC 61124:2012/COR1:2013

L'IEC 61124:2023 spécifie un certain nombre de plans d’essai optimisés, ainsi que les limites et caractéristiques correspondantes. De plus, les algorithmes pour concevoir des plans d’essai à l’aide d’une feuille de calcul sont également fournis, avec des recommandations relatives au choix de ces plans. Le présent document spécifie les procédures utilisées pour vérifier qu’une valeur observée: d’un taux de défaillance; d’une intensité de défaillance; d’un temps moyen de fonctionnement avant défaillance (MTTF); d’un temps moyen de fonctionnement entre défaillances (MTBF). est conforme à une exigence donnée. Il est présumé, sauf spécification contraire, que pendant le temps d’essai cumulé, les temps de fonctionnement avant défaillance ou les temps de fonctionnement entre défaillances sont indépendants et suivent une distribution identique et exponentielle. Cette hypothèse implique que le taux de défaillance ou l’intensité de défaillance est présumé constant.