IEC 61326-2-1:2012

IEC 61326-2-1:2012

octobre 2012
Norme internationale Annulée

Matériel électrique de mesure, de commande et de laboratoire - Exigences relatives à la CEM - Partie 2-1: Exigences particulières - Configurations d'essai, conditions fonctionnelles et critères de performance pour essai de sensibilité et équipement de mesure pour les applications non protégées de la CEM

La CEI 61326-2-1:2012 donne des spécifications plus détaillées des configurations d'essai, des conditions fonctionnelles et des critères de performance pour les matériels avec des circuits d'essai et de mesure (internes et/ou externes au matériel) qui n'ont pas de protection CEM pour des raisons fonctionnelles, comme spécifié par le fabricant. Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 2005. Cette édition constitue une révision technique. Les principaux changements techniques sont: Mise à jour par rapport à la CEI 61326-1:2012.Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 61326-1:2012.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

octobre 2012

Nombre de pages

16 p.

Référence

IEC 61326-2-1:2012

Numéro de tirage

2 - 07/11/2012
Résumé
Matériel électrique de mesure, de commande et de laboratoire - Exigences relatives à la CEM - Partie 2-1: Exigences particulières - Configurations d'essai, conditions fonctionnelles et critères de performance pour essai de sensibilité et équipement de mesure pour les applications non protégées de la CEM

La CEI 61326-2-1:2012 donne des spécifications plus détaillées des configurations d'essai, des conditions fonctionnelles et des critères de performance pour les matériels avec des circuits d'essai et de mesure (internes et/ou externes au matériel) qui n'ont pas de protection CEM pour des raisons fonctionnelles, comme spécifié par le fabricant. Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 2005. Cette édition constitue une révision technique. Les principaux changements techniques sont: Mise à jour par rapport à la CEI 61326-1:2012.

Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 61326-1:2012.
Normes remplacées (1)
IEC 61326-2-1:2005
décembre 2005
Norme internationale Annulée
Matériel électrique de mesure, de commande et de laboratoire - Exigences relatives à la CEM - Partie 2-1 : exigences particulières - Configurations d'essai, conditions de fonctionnelles et critères de performance pour essai de sensibilité et équipement de mesures pour les applications non protégées de la CEM

Norme remplacée par (1)
IEC 61326-2-1:2020
octobre 2020
Norme internationale En vigueur
Matériel électrique de mesure, de commande et de laboratoire - Exigences relatives à la CEM - Partie 2-1: Exigences particulières - Configurations d'essai, conditions fonctionnelles et critères de performance pour essai de sensibilité et matériel de mesure pour les applications non protégées de la CEM

L’IEC 61326:2020 donne des spécifications plus détaillées des configurations d’essai, des conditions fonctionnelles et des critères de performance pour les matériels avec des circuits d’essai et de mesure (internes et/ou externes au matériel) qui n’ont pas de protection CEM pour des raisons opérationnelles et/ou fonctionnelles, comme spécifié par le fabricant. Le fabricant spécifie l’environnement auquel le produit est destiné et sélectionne les spécifications pertinentes du niveau d’essai de l’IEC 61326-1:2020.

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