IEC 62226-3-1:2007/AMD1:2016

octobre 2016

Norme internationale En vigueur

Amendement 1 - Exposition aux champs électriques ou magnétiques à basse et moyenne fréquence - Méthodes de calcul des densités de courant induit et des champs électriques induits dans le corps humain - Partie 3-1: Exposition à des champs électriques - Modèles analytiques et numériques 2D

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

octobre 2016

Nombre de pages

9 p.

Référence

IEC 62226-3-1:2007/AMD1:2016

Codes ICS

17.220.20 Mesurage des grandeurs électriques et magnétiques

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