IEC 62321-3-1:2013

IEC 62321-3-1:2026 est disponible sous forme de IEC 62321-3-1:2026 RLV qui contient la Norme internationale et sa version Redline, illustrant les modifications du contenu technique depuis l'édition précédente. L'IEC 62321-3-1:2026 présente partie de l'IEC 62321 décrit une méthode de détection de substances, en particulier le plomb (Pb), le mercure (Hg), le cadmium (Cd), le chrome total (Cr), le brome total (Br), le phosphore total (P), en prenant pour hypothèse que la source de P est associée au TCEP (CAS 115‑96‑8) ou au phosphate de trixylyle (CAS 25155‑23‑1), le chlore total (Cl), en prenant pour hypothèse que la source de Cl est associée au PCCC (CAS 85535‑84‑8), au TCEP (CAS 115‑96‑8) ou au TBTC (CAS 1461‑22‑9), l'étain total (Sn), en prenant pour hypothèse que la source de Sn est associée aux composés organostanniques réglementés, l'antimoine total (Sb), en prenant pour hypothèse que la source de Sb est associée au pyrochlore ou à l'antimoniate de plomb (ou jaune de Naples) (CAS 8012‑00‑8), dans des matériaux homogènes rencontrés dans les produits électrotechniques, en utilisant la technique d'analyse de spectrométrie de fluorescence X (XRF, X‑Ray Fluorescence). Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport aux éditions précédentes de l'IEC 62321‑3‑1:2013 et de l'IEC 62321:2008: a) Cette deuxième édition de l'IEC 62321‑3‑1 inclut l'analyse d'éléments complémentaires comme indicateurs de substances supplémentaires. La sélection repose sur l'IEC TR 62936:2016. Cette édition contient également des commentaires concernant l'utilisation de la même méthodologie pour la détection de la présence de matières premières critiques (CRM, Critical Raw Materials). Le présent document a obtenu le statut de publication horizontale conformément aux Directives ISO/IEC, Partie 1.