IEC PAS 62396-2:2007

IEC PAS 62396-2:2007

septembre 2007
Spécification publiquement disponible Annulée

Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems

Provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes.

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Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

septembre 2007

Nombre de pages

23 p.

Référence

IEC PAS 62396-2:2007

Numéro de tirage

1
Résumé
Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems

Provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes.
Norme remplacée par (2)
IEC 62396-2:2017
décembre 2017
Norme internationale En vigueur
(pas de titre français)

IEC/TS 62396-2:2008
août 2008
Spécification technique Annulée
(pas de titre français)

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