IEC TR 63133:2017

IEC TR 63133:2017

octobre 2017
Rapport technique En vigueur

Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

IEC TR 63133:2017(E) specifies a design technique of performance estimation storage element, which can monitor semiconductor ageing and characterize ageing level. The estimated ageing level can be used to improve the reliability of system.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

octobre 2017

Nombre de pages

17 p.

Référence

IEC TR 63133:2017

Numéro de tirage

1
Résumé
Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

IEC TR 63133:2017(E) specifies a design technique of performance estimation storage element, which can monitor semiconductor ageing and characterize ageing level. The estimated ageing level can be used to improve the reliability of system.
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