IEEE 62528

janvier 2007

Norme En vigueur

IEC 62528 Ed. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits

Informations générales

Normes américaines IEEE

janvier 2007

130 p.

IEEE 62528

31.200 Circuits intégrés. Micro-électronique

IEC 62528:2007

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