Le présent document spécifie une méthode applicable à la détermination de la teneur en Gd2O3 dans les pastilles de UO2 par spectrométrie à fluorescence X.La méthode de fluorescence X à dispersion de longueur d’onde (WD-XRF) ou la méthode de fluorescence X à dispersion d’énergie (ED-XRF) est applicable. Dans le présent document, la méthode appliquée est la technique WD-XRF utilisant la raie Lα du Gd.Cette méthode a été testée pour des fractions massiques en Gd2O3 allant de 2 % à 10 %.
Le présent document spécifie une méthode applicable à la détermination de la teneur en Gd2O3 dans les pastilles de UO2 par spectrométrie à fluorescence X.
La méthode de fluorescence X à dispersion de longueur d’onde (WD-XRF) ou la méthode de fluorescence X à dispersion d’énergie (ED-XRF) est applicable. Dans le présent document, la méthode appliquée est la technique WD-XRF utilisant la raie Lα du Gd.
Cette méthode a été testée pour des fractions massiques en Gd2O3 allant de 2 % à 10 %.
L'ISO 16795:2004 spécifie une méthode applicable pour le dosage de Gd2O3 dans des pastilles frittées par spectrométrie de fluorescence X utilisant la raie Gd L-alpha. Les pastilles de combustible sont polies avant l'exposition aux rayons X. Cette méthode a été testée pour des fractions massiques en Gd2O3 allant de 2 % à 10 %.
L'ISO 16795:2004 spécifie une méthode applicable pour le dosage de Gd2O3 dans des pastilles frittées par spectrométrie de fluorescence X utilisant la raie Gd L-alpha. Les pastilles de combustible sont polies avant l'exposition aux rayons X. Cette méthode a été testée pour des fractions massiques en Gd2O3 allant de 2 % à 10 %.
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