Le présent document spécifie une méthode empirique permettant d'évaluer la résistance des couches anodiques à la formation de criques par déformation.La méthode est applicable particulièrement aux matériaux en feuille avec une couche anodique d'une épaisseur inférieure à 5 μm, et est utilisée pour le développement.NOTE Si l'éprouvette est épaisse, une couche de plus de 5 μm peut être évaluée (voir Article 9).
Le présent document spécifie une méthode empirique permettant d'évaluer la résistance des couches anodiques à la formation de criques par déformation.
La méthode est applicable particulièrement aux matériaux en feuille avec une couche anodique d'une épaisseur inférieure à 5 μm, et est utilisée pour le développement.
NOTE Si l'éprouvette est épaisse, une couche de plus de 5 μm peut être évaluée (voir Article 9).
L'ISO 3211:2010 spécifie une méthode empirique permettant d'évaluer la résistance des couches anodiques à la formation de criques par déformation. La méthode est applicable particulièrement aux matériaux en feuille avec une couche anodique d'une épaisseur inférieure à 5 µm, et est utilisée pour le développement.
L'ISO 3211:2010 spécifie une méthode empirique permettant d'évaluer la résistance des couches anodiques à la formation de criques par déformation. La méthode est applicable particulièrement aux matériaux en feuille avec une couche anodique d'une épaisseur inférieure à 5 µm, et est utilisée pour le développement.
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