JIS H 0611

février 1994

Norme En vigueur

Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer / Note: Approved 2020-10-20 JIS, 2015-10-20 JIS, 2010-10-01 JIS, 2006-01-20 JIS, 2001-09-20 JIS

Informations générales

Normes japonaises JIS

février 1994

6 p.

JIS H 0611

29.045 Matériaux semi-conducteurs

77.120.99 Autres métaux non ferreux et leurs alliages

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