NF EN 60749-28

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 28 : Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de dispositif chargé par contact direct (DC-CDM)

Le présent document établit une procédure pour les essais, l'évaluation et la classification des dispositifs et des microcircuits en fonction de leur susceptibilité (sensibilité) aux dommages ou de leur dégradation à la suite de leur exposition à des décharges électrostatiques (DES) sur un modèle défini du composant chargé (CDM) par induction.

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