NF EN 60749-34

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 34 : cycles en puissance

Le présent document décrit une méthode d'essai utilisée pour déterminer la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes.

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