NF EN 60749-4
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4 : essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide (HAST)
Le présent document décrit l'essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide appliqué aux semiconducteurs.
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Le présent document décrit l'essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide appliqué aux semiconducteurs.
Le présent document décrit un essai de contrainte de température et d'humidité fortement accéléré (HAST, highly accelerated temperature and humidity stress test) qui est réalisé dans le but d'évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides.
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