NF EN 61143-2

NF EN 61143-2

septembre 1994
Norme En vigueur

Appareils électriques de mesure - Enregistreurs X-T - Partie 2 : méthodes d'essais complémentaires recommandées.

Le présent document concerne les méthodes d'enregistrement recommandées pour les enregistreurs X-t qui mesurent et enregistrent des grandeurs électriques analogiques en fonction du temps.Ce document doit être lu conjointement, d'une part avec la norme NF EN 61143-1 (indice : C 42-145), enregistreurs X-t, définitions et prescriptions, et d'autre part, avec la norme NF EN 60051-9 (indice : C 42-108) concernant les méthodes générales d'essais recommandées pour les appareils mesureurs analogiques à action directe.

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Informations complémentaires
DOIT ETRE UTILISEE CONJOINTEMENT, D'UNE PART AVEC LA NORME NF EN 61 143-1 (C42-145) ET D'AUTRE PART, AVEC LA NORME NF EN 60 051-9 (C42-108)
Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

septembre 1994

Nombre de pages

11 p.

Référence

NF EN 61143-2

Codes ICS

17.220.20   Mesurage des grandeurs électriques et magnétiques
19.080   Essais électriques et électroniques

Indice de classement

C42-146

Numéro de tirage

1 - 01/10/1994

Parenté internationale

IEC 61143-2:1992

Parenté européenne

EN 61143-2:1994
Résumé
Appareils électriques de mesure - Enregistreurs X-T - Partie 2 : méthodes d'essais complémentaires recommandées.

Le présent document concerne les méthodes d'enregistrement recommandées pour les enregistreurs X-t qui mesurent et enregistrent des grandeurs électriques analogiques en fonction du temps. Ce document doit être lu conjointement, d'une part avec la norme NF EN 61143-1 (indice : C 42-145), enregistreurs X-t, définitions et prescriptions, et d'autre part, avec la norme NF EN 60051-9 (indice : C 42-108) concernant les méthodes générales d'essais recommandées pour les appareils mesureurs analogiques à action directe.
Sommaire
  • AVANT-PROPOS
    2
  • INTRODUCTION
    4
  • Articles
  • 1.1 Domaine d'application
    5
  • 2.11 Essai d'erreur intrinsèque
    5
  • 2.12 Erreur additionnelle due au décalage du zéro
    6
  • 2.13 Influence mutuelle des différents circuits de mesure pour les enregistreurs multiples et pour les enregistreurs à voies multiples
    7
  • 4.20 Détermination de la valeur de la zone morte
    7
  • 6 Influence des grandeurs parasites
    8
  • 6.1 Interférence en mode commun
    8
  • 6.2 Interférence en mode série (parallèle)
    8
  • 7 Essai de performance dynamique
    8
  • 7.1 Temps de réponse
    8
  • 7.2 Domaine de réponse en fréquence
    9
  • 7.3 Dépassement
    9
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