NF EN ISO 11254-1
NF EN ISO 11254-1

NF EN ISO 11254-1

octobre 2000
Norme Annulée

Lasers et équipements associés aux lasers - Détermination du seuil d'endommagement provoqué sur les surfaces optiques - Partie 1 : essai 1 sur 1

Dans la série de normes relatives aux composants optiques pour lasers et équipements à laser, le présent document propose une méthode de détermination du seuil d'endommagement causé par les lasers sur les surfaces optiques (essai 1 sur 1).

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de parution

septembre 2000

Nombre de pages

31 p.

Référence

NF EN ISO 11254-1

Codes ICS

31.260   Optoélectronique. Appareils à laser

Indice de classement

S10-112-1

Numéro de tirage

1 - 25/09/2000

Parenté internationale

ISO 11254-1:2000

Parenté européenne

EN ISO 11254-1:2000
Résumé
Lasers et équipements associés aux lasers - Détermination du seuil d'endommagement provoqué sur les surfaces optiques - Partie 1 : essai 1 sur 1

Dans la série de normes relatives aux composants optiques pour lasers et équipements à laser, le présent document propose une méthode de détermination du seuil d'endommagement causé par les lasers sur les surfaces optiques (essai 1 sur 1).
Norme remplacée par (2)
NF EN ISO 21254-1
NF EN ISO 21254-1
septembre 2011
Norme En vigueur
Lasers et équipements associés aux lasers - Méthodes d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser - Partie 1 : définitions et principes de base

Dans la série des normes relatives aux lasers et équipements associés aux lasers, le présent document traite de la détermination de l'endommagement irréversible (endommagement de surface et endommagement dans la masse) des composants optiques soumis à l'influence d'un faisceau laser. Il définit les principes de base et généraux relatifs au mesurage des seuils d'endommagements.

NF EN ISO 21254-2
NF EN ISO 21254-2
septembre 2011
Norme En vigueur
Lasers et équipements associés aux lasers - Méthode d'essai du seuil d'endommagement provoqué par laser - Partie 2 : détermination du seuil

Dans la série des normes relatives aux lasers et équipements associés aux lasers, le présent document spécifie des méthodes d'essai (1 sur 1 et S sur 1) permettant de déterminer les seuils d'endommagement provoqués sur des composants optiques, traités ou non par un rayonnement laser. Les méthodes d'évaluation décrites sont la courbe de résistance pour les essais 1 sur 1 et la courbe d'endommagement caractéristique et la méthode d'extrapolation pour les essais S sur 1.

Sommaire
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  • Avant-propos
    iv
  • Introduction
    v
  • 1
    Domaine d'application 1
  • 2
    Références normatives 1
  • 3
    Termes et définitions 2
  • 4
    Symboles et unités 4
  • 5
    Échantillonnage 4
  • 6
    Méthode d'essai 4
  • 6.1
    Principe 4
  • 6.2
    Appareillage 5
  • 6.3
    Préparation des échantilllons pour essai 9
  • 6.4
    Mode opératoire 9
  • 7
    Évaluation 9
  • 8
    Exactitude 10
  • 9
    Rapport d'essai 11
  • Annexe A (informative) Modèle de rapport d'essai
    13
  • Annexe B (informative) Exemple de procédure de mesure
    16
  • Annexe C (informative) Unités et échelles de seuil d'endommagement causé par laser
    22
  • Bibliographie
    23
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