L'ISO 2128:2010 spécifie une méthode non destructive pour déterminer l'épaisseur des couches anodiques sur l'aluminium et ses alliages en utilisant un microscope à coupe optique. Cette méthode est applicable, dans la plupart des cas industriels, aux couches anodiques d'épaisseur supérieure à 10 µm, ou supérieure à 5 µm lorsque la surface est lisse. L'utilisation de la méthode spécifiée est limitée par la nécessité que les deux lignes lumineuses décrites dans le principe soient visibles et nettement séparées, c'est-à-dire qu'elle n'est pas applicable aux couches opaques ou de couleurs sombres.
L'ISO 2128:2010 spécifie une méthode non destructive pour déterminer l'épaisseur des couches anodiques sur l'aluminium et ses alliages en utilisant un microscope à coupe optique.
Cette méthode est applicable, dans la plupart des cas industriels, aux couches anodiques d'épaisseur supérieure à 10 µm, ou supérieure à 5 µm lorsque la surface est lisse.
L'utilisation de la méthode spécifiée est limitée par la nécessité que les deux lignes lumineuses décrites dans le principe soient visibles et nettement séparées, c'est-à-dire qu'elle n'est pas applicable aux couches opaques ou de couleurs sombres.
Le présent document prescrit une méthode non destructive pour déterminer l'épaisseur des couches anodiques sur l'aluminium et ses alliages en utilisant un microscope à coupe optique.
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