L'ISO 22007-4:2017 spécifie une méthode de détermination de la diffusivité thermique d'un disque plein mince en plastique suivant la direction de l'épaisseur par la méthode flash laser. Cette méthode est fondée sur le mesurage de l'élévation de température sur la face arrière d'une éprouvette sous forme de disque mince due à une courte impulsion énergétique sur la face avant. La méthode peut être utilisée pour les plastiques compacts homogènes ou composites présentant une structure isotrope ou orthotrope. En général, cela inclut les matériaux ayant une diffusivité thermique, α, comprise dans la plage 1 × 10−7 m2⋅s−1 < α < 1 × 10−4 m2⋅s−1. Les mesurages peuvent être effectués en environnements gazeux et sous vide sur une plage de températures comprises entre −100 °C et +400 °C. NOTE Pour des éprouvettes non homogènes, les valeurs mesurées peuvent dépendre de l'épaisseur de l'éprouvette.
L'ISO 22007-4:2017 spécifie une méthode de détermination de la diffusivité thermique d'un disque plein mince en plastique suivant la direction de l'épaisseur par la méthode flash laser. Cette méthode est fondée sur le mesurage de l'élévation de température sur la face arrière d'une éprouvette sous forme de disque mince due à une courte impulsion énergétique sur la face avant.
La méthode peut être utilisée pour les plastiques compacts homogènes ou composites présentant une structure isotrope ou orthotrope. En général, cela inclut les matériaux ayant une diffusivité thermique, α, comprise dans la plage 1 × 10−7 m2⋅s−1 < α < 1 × 10−4 m2⋅s−1. Les mesurages peuvent être effectués en environnements gazeux et sous vide sur une plage de températures comprises entre −100 °C et +400 °C.
NOTE Pour des éprouvettes non homogènes, les valeurs mesurées peuvent dépendre de l'épaisseur de l'éprouvette.
<p>L'ISO 22007-4:2008 spécifie une méthode de détermination de la diffusivité thermique d'un disque plein mince en plastique suivant la direction de l'épaisseur par la méthode flash laser. Cette méthode est fondée sur le mesurage de l'élévation de température sur la face arrière d'une éprouvette sous forme de disque mince due à une courte impulsion énergétique sur la face avant.</p> <p>La méthode peut être utilisée pour les plastiques compacts homogènes ou composites présentant une structure isotrope ou orthotrope. En général, cela inclut les matériaux ayant une diffusivité thermique, <i>α</i>, comprise dans la plage 1 x 10<sup>-7</sup> m<sup>2</sup>s<sup>-1</sup> < <i>α</i> < 1 x 10<sup>-4</sup> m<sup>2</sup>s<sup>-1</sup>. Les mesurages peuvent être effectués en environnements gazeux et sous vide sur une plage de températures comprises entre -100 °C et +400 °C.</p> <p>Pour des éprouvettes non homogènes, les valeurs mesurées peuvent dépendre de l'épaisseur de l'éprouvette.</p>
<p class="MsoBodyText"><span lang="FR-CH" style="mso-ansi-language: FR-CH;">Le présent document spécifie une méthode de détermination de la diffusivité thermique d’un disque plein mince en plastique suivant la direction de l’épaisseur par la méthode flash lumineux. Cette méthode est fondée sur le mesurage de l’élévation de température sur la face arrière d’une éprouvette sous forme de disque mince due à une courte impulsion énergétique sur la face avant.</span></p> <p class="MsoBodyText"><span lang="FR-CH" style="mso-ansi-language: FR-CH;">La méthode est applicable aux plastiques compacts homogènes ou composites présentant une structure isotrope ou orthotrope. En général, cela inclut les matériaux ayant une diffusivité thermique, </span><em style="mso-bidi-font-style: normal;"><span lang="EN-GB">α</span></em><em style="mso-bidi-font-style: normal;"><span lang="FR-CH" style="mso-ansi-language: FR-CH;">,</span></em><span lang="FR-CH" style="mso-ansi-language: FR-CH;"> comprise dans la plage 1 × 10<sup>−7</sup> m<sup>2</sup>⋅s<sup>−1</sup> < </span><em style="mso-bidi-font-style: normal;"><span lang="EN-GB">α</span></em><span lang="FR-CH" style="mso-ansi-language: FR-CH;"> < 1 × 10<sup>−4</sup> m<sup>2</sup>⋅s<sup>−1</sup>. Les mesurages peuvent être effectués en environnements gazeux et sous vide sur une plage de températures comprises entre −100 °C et +400 °C.</span></p> <p class="Note"><span lang="FR-CH" style="mso-ansi-language: FR-CH;">NOTE<span style="mso-tab-count: 1;"> </span>Pour des éprouvettes non homogènes, les valeurs mesurées peuvent dépendre de l’épaisseur de l’éprouvette.</span></p>
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