NF ISO 14997

NF ISO 14997

mars 2012
Norme Annulée

Optique et photonique - Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques

L'ISO 14997:2011 donne les principes physiques et les moyens pratiques de mise en oeuvre des méthodes de mesure des imperfections de surface. Cette méthode évalue le mesurage de la zone obscurcie ou affectée par les imperfections.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

mars 2012

Nombre de pages

20 p.

Référence

NF ISO 14997

Codes ICS

37.020   Matériel optique

Indice de classement

S10-046

Numéro de tirage

1 - 09/02/2012

Parenté internationale

Résumé
Optique et photonique - Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques

L'ISO 14997:2011 donne les principes physiques et les moyens pratiques de mise en oeuvre des méthodes de mesure des imperfections de surface. Cette méthode évalue le mesurage de la zone obscurcie ou affectée par les imperfections.

Normes remplacées (1)
NF ISO 14997
septembre 2003
Norme Annulée
Optique et instruments d'optique - Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques

L'ISO 14997:2002 décrit les principes physiques et les moyens pratiques de mise en oeuvre des deux méthodes de mesure des imperfections de surface spécifiées dans l'ISO 10110-7. Ces méthodes sont : Méthode I : Mesurage de la zone obscurcie ou affectée par les défauts, et Méthode II : Mesurage de la visibilité des imperfections. Les deux méthodes conviennent à la production d'une grande variété d'éléments optiques, que ce soit au niveau des prototypes ou des petites ou grandes séries. L'apparence des imperfections ou les tolérances fonctionnelles pour un composant particulier peuvent être déterminées par accord client-fournisseur.

Norme remplacée par (1)
NF ISO 14997
décembre 2017
Norme En vigueur
Optique et photonique - Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques

ISO 14997:2017 spécifie les principes physiques et les moyens pratiques de mise en ?uvre des méthodes d'évaluation des imperfections de surface. Pour les imperfections spécifiées au moyen de la méthode de visibilité, deux méthodes de contrôle sont décrites. La première est une évaluation visuelle de la surface sans aucun étalon de comparaison (IVV). La seconde est une évaluation de la visibilité d'une imperfection de surface comparée à un défaut dont la luminosité est connue (ISV). Pour les imperfections spécifiées au moyen de la méthode dimensionnelle, trois méthodes sont décrites. La première est une évaluation visuelle de la surface sans aucun étalon de comparaison (IVD). La deuxième est une évaluation dimensionnelle d'une imperfection de surface comparée à un défaut dont la taille est connue (ISD). La troisième est le mesurage dimensionnel d'une imperfection de surface avec un grossissement et en utilisant soit un défaut de comparaison dont la taille est connue, soit un réticule ou une règle (IMD). Il existe des instruments qui permettent un mesurage objectif de la luminosité (diffusiométrie numérique) ou de la taille (microscopie numérique). Bien que ces instruments puissent être utilisés pour l'évaluation des imperfections de surface, ils sont hors du domaine d'application du présent document. ISO 14997:2017 s'applique aux surfaces optiques des composants ou ensembles, tels que les doublets ou les triplets. ISO 14997:2017 peut être appliquée à des composants en plastique optiques, toutefois l'attention est attirée sur le fait que l'endommagement des matières plastiques par des chocs est souvent très différent de celui observé sur des matériaux plus durs, car il ne conduit pas toujours à un retrait de matière mais plutôt à un déplacement de matière causant des ondulations à la surface. Par conséquent, les comparaisons visuelles de rayures et de creux sur des plastiques et sur du verre ou des matériaux cristallins peuvent donner des résultats très différents.

Sommaire
  • Avant-propos
    iv
  • Introduction
    v
  • 1 Domaine d'application
    1
  • 2 Références normatives
    1
  • 3 Termes et définitions
    1
  • 4 Principes physiques
    2
  • 5 Mesurage de la zone obscurcie ou affectée par les défauts
    3
  • 5.1 Généralités
    3
  • 5.2 Exigences
    3
  • 5.3 Étalonnage
    4
  • 5.4 Mode opératoire
    4
  • 5.5 Rapport d'essai
    5
  • Annexe A (informative) Contrôle des éléments
    6
  • Annexe B (informative) Dimensions recommandées des artefacts sur un plateau de comparaison gradué
    7
  • Annexe C (informative) Description de l'instrument de mesure des imperfections inférieures à 0,01 mm: microscope comparateur d'images
    8
  • Annexe D (informative) Contrôle qualité des imperfections
    11
  • Annexe E (normative) Valeurs préférentielles des références de classe et facteurs de subdivision
    13
  • Bibliographie
    14
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