XP CEN/TS 17629
XP CEN/TS 17629

XP CEN/TS 17629

juin 2021
Norme En vigueur

Nanotechnologies - Essais de rayure aux échelles nano- et micro métriques

Le présent document spécifie une méthode permettant de mesurer la résistance à la rayure et le comportement à la rupture des matériaux avancés et des revêtements, au moyen d''expériences de rayure aux échelles nano- et micro-métriques. La méthode fournit des données portant à la fois sur les dommages physiques occasionnés aux éprouvettes et sur le frottement généré entre la sonde et l''éprouvette en une seule ou plusieurs passes. Les forces à appliquer pour ces essais sont comprises entre 1 micron N et 2 N.

Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

juin 2021

Nombre de pages

37 p.

Référence

XP CEN/TS 17629

Codes ICS

07.120   Nanotechnologies

Numéro de tirage

1

Parenté européenne

CEN/TS 17629:2021
Résumé
Nanotechnologies - Essais de rayure aux échelles nano- et micro métriques

Le présent document spécifie une méthode permettant de mesurer la résistance à la rayure et le comportement à la rupture des matériaux avancés et des revêtements, au moyen d''expériences de rayure aux échelles nano- et micro-métriques. La méthode fournit des données portant à la fois sur les dommages physiques occasionnés aux éprouvettes et sur le frottement généré entre la sonde et l''éprouvette en une seule ou plusieurs passes. Les forces à appliquer pour ces essais sont comprises entre 1 micron N et 2 N.
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