IEC 60748-4-3:2006

IEC 60748-4-3:2006

août 2006
Norme internationale En vigueur

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

Specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated terminology and characteristics

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Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

août 2006

Nombre de pages

36 p.

Référence

IEC 60748-4-3:2006

Numéro de tirage

1 - 04/10/2006
Résumé
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

Specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated terminology and characteristics
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