IEC 60749-1:2002

IEC 60749-1:2002

août 2002
Norme internationale En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 1: Généralités

Applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés)et établit des dispositions communes à toutes les autres parties de la série. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

août 2002

Nombre de pages

15 p.

Référence

IEC 60749-1:2002
Résumé
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 1: Généralités

Applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés)et établit des dispositions communes à toutes les autres parties de la série. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
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