NF ISO 29081

NF ISO 29081

avril 2010
Norme En vigueur

Analyse chimique des surfaces - Spectroscopie d'électrons Auger - Indication des méthodes mises en oeuvre pour le contrôle et la correction de la charge

L'ISO 29081:2010 spécifie la quantité minimale d'informations requise pour décrire les méthodes de contrôle de charge dans les mesures des transitions d'électrons Auger à partir d'échantillons isolants par spectroscopie des électrons Auger stimulée par des électrons et à consigner avec les résultats analytiques. Les informations sur les méthodes qui se sont avérées utiles pour le contrôle de charge avant ou au cours de l'analyse par AES sont fournies en Annexe A. L'annexe contient également un tableau récapitulatif des méthodes ou des approches, classées par simplicité d'approche. Certaines méthodes sont applicables à la plupart des instruments, d'autres nécessitent un matériel spécial, d'autres peuvent impliquer de remonter l'échantillon ou de changer d'échantillon. Une Norme internationale analogue a été publiée pour la spectroscopie de photoélectrons par rayons X (ISO 19318).

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

avril 2010

Nombre de pages

33 p.

Référence

NF ISO 29081

Codes ICS

71.040.40   Méthodes d'analyse chimique

Indice de classement

X21-068

Numéro de tirage

1 - 31/03/2010

Parenté internationale

ISO 29081:2010
Résumé
Analyse chimique des surfaces - Spectroscopie d'électrons Auger - Indication des méthodes mises en oeuvre pour le contrôle et la correction de la charge

L'ISO 29081:2010 spécifie la quantité minimale d'informations requise pour décrire les méthodes de contrôle de charge dans les mesures des transitions d'électrons Auger à partir d'échantillons isolants par spectroscopie des électrons Auger stimulée par des électrons et à consigner avec les résultats analytiques. Les informations sur les méthodes qui se sont avérées utiles pour le contrôle de charge avant ou au cours de l'analyse par AES sont fournies en Annexe A. L'annexe contient également un tableau récapitulatif des méthodes ou des approches, classées par simplicité d'approche. Certaines méthodes sont applicables à la plupart des instruments, d'autres nécessitent un matériel spécial, d'autres peuvent impliquer de remonter l'échantillon ou de changer d'échantillon. Une Norme internationale analogue a été publiée pour la spectroscopie de photoélectrons par rayons X (ISO 19318).

Sommaire
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  • Avant-propos
    v
  • Introduction
    VI
  • 1 Domaine d'application
    1
  • 2 Références normatives
    1
  • 3 Termes et définitions
    1
  • 4 Symboles et termes abrégés
    1
  • 5 Appareillage
    2
  • 5.1 Technique du contrôle de charge
    2
  • 5.2 Appareillage spécial
    2
  • 5.3 Montage et préparation de l'échantillon
    3
  • 5.4 Étalonnage de l'instrument
    3
  • 6 Description des informations relatives au contrôle de charge
    3
  • 6.1 Méthodes de contrôle de charge
    3
  • 6.2 Raisons d'un recours au contrôle de charge et choix de la méthode
    3
  • 6.3 Informations concernant l'échantillon
    3
  • 6.4 Valeurs des paramètres expérimentaux
    4
  • 6.5 Informations concernant l'efficacité des méthodes de contrôle de charge
    5
  • 7 Description de la ou des méthodes utilisées pour la correction de charge et de la valeur de cette correction
    5
  • 7.1 Méthodes de correction de charge
    5
  • 7.2 Approche
    5
  • 7.3 Valeur de l'énergie de correction
    5
  • Annexe A (informative) Description des méthodes de contrôle de charge en spectroscopie des électrons Auger
    6
  • A.1 Introduction
    6
  • A.2 Tableau hiérarchique des méthodes destinées à réduire l'effet de charge
    7
  • A.3 Méthodes destinées à minimiser l'effet de charge au cours d'une analyse par AES
    9
  • A.4 Considérations relatives aux échantillons fortement non uniformes, aux fibres et aux particules et à l'utilisation du profilage en profondeur par pulvérisation
    15
  • A.5 Considérations générales concernant l'accumulation de charge au cours d'une analyse par AES
    17
  • Bibliographie
    23
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