Le présent document spécifie des modes opératoires génériques pour l’étalonnage, l’ajustage et la vérification des caractéristiques métrologiques que les instruments de mesure de la topographie des surfaces ont en commun, comme indiqué dans l’ISO 25178‑600.Comme les profils peuvent être extraits des images par topographie de surface, la plupart des méthodes décrites dans le présent document peuvent être adaptées aux instruments de profilométrie.Les problèmes spécifiques des instruments ne sont pas couverts dans le présent document. Par exemple, pour les instruments basés sur un palpage mécanique, lorsque le palpeur suit un mouvement arqué additionnel, des mesures additionnelles sont spécifiées dans l’ISO 25178‑701.Le présent document n’inclut pas de modes opératoires pour les méthodes d’intégration des surfaces, bien que celles-ci soient aussi mentionnées dans l’ISO 25178‑6. Par exemple, la diffusion de la lumière appartient à une classe de techniques connue sous le nom de méthodes d’intégration des surfaces servant à mesurer la topographie des surfaces.

Le présent document traite des défauts géométriques pouvant être présents sur les surfaces des mesures matérialisées et des échantillons d'étalonnage conformes à l'ISO 5436-1 et à l'ISO 25178-70 et définit les termes désignant les manières de répondre à ces défauts.Le présent document est applicable comme suit:a) pour aider les clients et les utilisateurs de mesures matérialisées en métrologie de surface à spécifier leurs éléments nominaux (propriétés géométriques idéales) en cas d'obtention de ces mesures auprès des fabricants et des fournisseurs;b) pour permettre aux utilisateurs de mesures matérialisées de formuler leurs propres règles et politiques pour répondre à l'occurrence de défauts de manière à réduire le plus possible l'incertitude de leurs propres mesurages;NOTE Ces politiques sont par exemple requises dans l'ISO/IEC 17025:2017, 7.2.1.1, 7.2.1.3, 7.3.1 et 7.8.5 c) et d).c) pour permettre aux laboratoires d'étalonnage et à leurs clients de convenir d'une politique commune sur la manière de traiter les défauts présents sur une mesure matérialisée ayant été envoyée en vue d'être étalonnée;d) pour former les utilisateurs de mesures matérialisées à la signification et à l'importance variable des différents types de défauts;e) pour les autres normes GPS qui font référence à la question du choix des emplacements de mesure ou du choix des zones à mesurer ou des zones à éviter lors du mesurage.

Le présent document décrit les grandeurs d'influence et les caractéristiques des instruments utilisés dans les systèmes de microscopie confocale (MC) pour le mesurage surfacique de la topographie des surfaces. Comme les profils de surface peuvent être extraits des images par topographie de surface, les métodes décrites dans le présent document peuvent également être appliqués aux mesures de profilage

Le présent document spécifie les caractéristiques métrologiques des instruments de mesure des surfaces par topologie surfacique. Comme les profils de surface peuvent être extraits des images par topographie de surface, la plupart des termes définis dans le présent document peuvent également être appliqués aux mesures de profilage.

ISO 25178-1:2016 spécifie les règles pour l'indication des états de surface surfaciques dans la documentation technique de produits (par exemple dessins, spécifications, contrats, rapports) au moyen de symboles graphiques.