Est une spécification générique pour les dispositifs à semiconducteurs: dispositifs discrets et circuits intégrés, y compris les circuits intégrés polylithiques, mais à fusion des circuits hybrides. Définit les méthodes de contrôle de la qualité à utiliser dans le Système IECQ en présentant des règles générales applicables aux méthodes de mesure des caractéristiques électriques, aux essais climatiques et mécaniques et aux essais d'endurance. Cette édition remplace la première édition de la CEI 747-10 (1984).
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